VISMUT-SURMA TELLURID FILMLARDA FERMI DARAJASI VA SAMARALI ZARYADA SIQTISHGA DEFORMATSIYA VA NOLOQLIK KIRISHINING TA’SIRI.

Юсупова, Д.А

FarDU ilmiy xabarlari · 2024-yil

Annotatsiya

<p><em>Hozirgi vaqtda elektron qurilmalar va asboblarni miniatyuralashtirish tendentsiyasini hisobga olgan holda, zamonaviy elektronikada asosiy rol o'ynaydigan yarim o'tkazgichlarning yupqa polikristal plyonkalarining xususiyatlarini o'rganishga katta e'tibor qaratilmoqda. Bunday tuzilmalardagi interfeyslar alohida qiziqish uyg'otadi, bu ularning xususiyatlariga ta'sir qilishi va o'ziga xos xususiyatlarga ega qurilmalarni ishlab chiqish uchun yangi imkoniyatlar yaratishi mumkin. </em><em>Ushbu maqolada heterojen Bi2Te3-Sb2Te3 plyonkalarida elektron sirt holatlarining samarali zichligi rolini o'rganish usullari keltirilgan. Ushbu tadqiqot yondashuvi bunday tizimlarda sodir bo'ladigan jismoniy jarayonlarni chuqurroq tushunishga qaratilgan va nanoelektronika sohasida yangi materiallar va texnologiyalarni ishlab chiqishga hissa qo'shishi mumkin.</em></p>

Maqola ma’lumotlari
MualliflarЮсупова, Д.А
JurnalFarDU ilmiy xabarlari
Nashr sanasi2024-09-12
Jild30
Son3
Betlar134-139
TilO‘zbek

Kalit so‘zlar

sirt holatlari, interfeyslar, don chegaralari, polikristal plyonkalar, holatlarning samarali zichligi, deformatsiyaga sezgir plyonkalar, elektron struktura, aralashmalar, nuqsonlar, Fermi darajasi, zaryad zichligi, deformatsiya., surface states, interfaces, grain boundaries, polycrystalline films, effective density of states, strain-sensitive films, electronic structure, impurities, defects, Fermi level, charge density, deformation.

Ilmiy soha

FarDU ilmiy xabarlari jurnalidan boshqa maqolalar

FarDU ilmiy xabarlari — barcha maqolalar