YUPQA KREMNIY VA KREMNIY OKSIDLI PLYONKALARNI FTIR TAHLILI

Normuradov, Muradulla, Dovranov, Kuvondik, Davranov, Khuzhamkul, Davlatov, Muzaffar

FarDU ilmiy xabarlari · 2023-yil

Annotatsiya

<p><em>FT-IR spektrometrlari zamonaviy analitikaning turli muammolarini hal qilish uchun ishlatiladi. Sifatli tahlil qilish, yupqa plyonkalarning sinishi indeksini, yupqa plyonkalarning qalinligini tekshirish uchun mo‘ljallangan. Biz ion-plazma usulida olingan o‘rta infraqizil uzatish va yutilish spektrlarini, sindirish ko‘rsatkichini, qatlam qalinligini, standart og‘ishini, tushish burchagini, o‘rtacha interferentsiya chekkalarini va kremniy va kislorod o‘rtasidagi bog‘lanishni o‘rgandik</em></p>

Maqola ma’lumotlari
MualliflarNormuradov, Muradulla, Dovranov, Kuvondik, Davranov, Khuzhamkul, Davlatov, Muzaffar
JurnalFarDU ilmiy xabarlari
Nashr sanasi2023-11-28
Jild29
Son4
Betlar20-27
TilO‘zbek
DOI10.56292/sjfsu/vol29_iss4/a68

Kalit so‘zlar

kremniy oksidi, FT-IR spektrometri, yupqa plyonkalar, yutilish spektrlari, uzatish spektrlari, “ion-plazma” usuli, sinish indeksi, ATR spektri, silicon oxide, FT-IR spectrometer, thin films, absorption spectra, transmission spectra, “ion-plasma” method, refraction index, ATR spectrum

Ilmiy soha

FarDU ilmiy xabarlari jurnalidan boshqa maqolalar

FarDU ilmiy xabarlari — barcha maqolalar