Ge2Sb2Te5 YUPQA QATLAM PLYONKALARINING SOLISHTIRMA KONTAKT QARSHILIGINI O’RGANISH

I T Jo‘rakulov, F B Umrzoqov

Samarqand davlat universiteti ilmiy tadqiqotlar axborotnomasi · 2023-yil

Annotatsiya

Bu tadqiqotda Al, Ni, Ti, W metal elektrodlari va Ge2Sb2Te5 yupqa qatlam plyonkalari o'rtasidagi kontakt qarshiliklari uzatish liniyasi usuli bilan tekshirildi TLM (TLM-Transmission line method). Ge2Sb2Te5/elektrodning elektr xususiyatlariga issiqlik ta'siri o'rganildi. 155-160°C oraliqda issiqlik ta’siri Ge2Sb2Te5 yupqa qatlam plyonkasining kristallanishi tufayli kontakt qarshiligining sezilarli kamayishiga olib keladi. Kontakt qarshiligining Ge2Sb2Te5 va metal elektrodlar kontaktining umumiy kontakt qarshiligiga qo'shgan xissasi tahlil qilindi.Tahlil shuni ko’rsatdiki kristall holatdagi Ge2Sb2Te5 qatlam plyonkasi uchun solishtirma kontakt qarshiligining umumiy qarshilikka qo'shgan xissasi yetarli darajada oshib borishini ko'rsatdi va optimal metal elektrod W uchun solishtirma kontakt qarshiligi ρc = 6,0∙103 Om∙cm2.

Maqola ma’lumotlari
MualliflarI T Jo‘rakulov, F B Umrzoqov
JurnalSamarqand davlat universiteti ilmiy tadqiqotlar axborotnomasi
Nashr sanasi2023-02-20
Jild1
Son1
Betlar1-9
Tiluz
DOI10.59251/2181-1296.v1.1.1841

Samarqand davlat universiteti ilmiy tadqiqotlar axborotnomasi jurnalidan boshqa maqolalar

Samarqand davlat universiteti ilmiy tadqiqotlar axborotnomasi — barcha maqolalar