METROLOGIYANING ILMIY-METODIK ASOSLARI VA UNING ZAMONAVIY RIVOJLANISH TENDENSIYALARI

Maxmudov , Dostonbek

Муҳандислик ва Иқтисодиёт · 2026-yil

Annotatsiya

Ushbu mavzuda metrologiyaning ilmiy-metodik asoslari, ya’ni o‘lchash nazariyasining shakllanishi, o‘lchovbirliklarining standartlashuvi hamda o‘lchash jarayonlari ishonchliligini ta’minlash tamoyillari tahlil qilinadi. Shuningdek,metrologiyaning zamonaviy rivojlanish tendensiyalari, jumladan, raqamli metrologiya, avtomatlashtirilgan o‘lchash tizimlari,sun’iy intellekt va sensor texnologiyalarining o‘lchash jarayonlariga integratsiyasi yoritiladi. Mazkur mavzu metrologiyaningilmiy asoslarini chuqur tushunish va uning zamonaviy sanoat va ilm-fandagi o‘rnini baholashga yordam beradi

Maqola ma’lumotlari
MualliflarMaxmudov , Dostonbek
JurnalМуҳандислик ва Иқтисодиёт
Nashr sanasi2026-05-01
Jild4
Son5
TilO‘zbek

Kalit so‘zlar

Metrologiya, o‘lchash nazariyasi, ilmiy-metodik asoslar, SI tizimi, o‘lchash aniqligi, xatoliklar, kalibrlash, standartlashtirish, raqamli metrologiya, avtomatlashtirilgan tizimlar, sun’iy intellekt, sensor texnologiyalar

Ilmiy soha

Муҳандислик ва Иқтисодиёт jurnalidan boshqa maqolalar

Муҳандислик ва Иқтисодиёт — barcha maqolalar