Zamonaviy metrologiya asoslari, kvant metrologiyaning istiqbollari

Ibroximov, Jasurbek

Муҳандислик ва Иқтисодиёт · 2025-yil

Annotatsiya

Mazkur maqolada zamonaviy metrologiyaning nazariy asoslari, texnologiktaraqqiyotlar ta’sirida shakllangan yangi konseptual yondashuvlar hamda kvant metrologiyaningilmiy va amaliy istiqbollari yoritilgan. Kvant metrologiyaning o‘lchash aniqligini oshirishdagi o‘rni,raqamli texnologiyalar, sun’iy intellekt va IoT tizimlari bilan integratsiyasi tahlil qilingan. Shuningdek,nano-metrologiya doirasida modda va materiallar bilan bog‘liq o‘lchash texnikalari misollar bilanko‘rsatib berilgan. Tadqiqotda ilgari surilgan yondashuvlarning afzalliklari va amaliy samaradorligiilmiy dalillar bilan asoslab berilgan

Maqola ma’lumotlari
MualliflarIbroximov, Jasurbek
JurnalМуҳандислик ва Иқтисодиёт
Nashr sanasi2025-04-07
Jild3
Son4
TilO‘zbek

Kalit so‘zlar

kvant metrologiya, sun’iy intellekt, IoT, raqamli metrologiya, datchiklar, nanometrologiya, modda, materiallar, aniqlik, o‘lchash darajasi

Ilmiy soha

Муҳандислик ва Иқтисодиёт jurnalidan boshqa maqolalar

Муҳандислик ва Иқтисодиёт — barcha maqolalar