ФИЗИЧЕСКИЕ МЕХАНИЗМЫ ДЕГРАДАЦИИ И НАДЁЖНОСТЬ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Жалелов, М.А., Исмаилов, К.А., Абдиреймова, Г.Р., Аскаров, М.

Ilim ha’m ja’miyet · 2016-yil

Annotatsiya

The article deals with the issues of work and reliability of semi-conductor devices. On the basis of the analysis there have been shown the degradational processes in semi-conductor

Maqola ma’lumotlari
MualliflarЖалелов, М.А., Исмаилов, К.А., Абдиреймова, Г.Р., Аскаров, М.
JurnalIlim ha’m ja’miyet
Nashr sanasi2016-01-10
Son1
Betlar16-19
TilRus
DOI10.67609/4jte7v24

Kalit so‘zlar

яримўтказгичли асбоблар, механик кучланиш, нуқсонлар, полупроводниковые приборы, механическое напряжение, дефекты, semiconductor devices, mechanical stress, defects

Ilmiy soha

Ilim ha’m ja’miyet jurnalidan boshqa maqolalar

Ilim ha’m ja’miyet — barcha maqolalar